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微波暗室的技術指標參數(shù)有哪些？
發(fā)布時間：
2021-06-30 10:00
微波暗室的電性能指標主要由靜區(qū)的特征來表現(xiàn)的。靜區(qū)的特性又以靜區(qū)的大小、靜區(qū)內的最大反射電平、場均勻性、路徑損耗、工作頻率范圍以及固有雷達截面等指標來描述。飛宇信擁有專業(yè)的測試設備，3D微波暗室， 網(wǎng)絡分析儀，矢量網(wǎng)絡分析儀，遠場自動測試系統(tǒng)。確保天線生產參數(shù)的準確性。
影響微波暗室性能指標的因素是有很多種的，且復雜。在利用能量物理法和光線發(fā)射法對暗室性能進行仿真計算時，需要考慮電波的極化去耦，傳輸去耦，標準天線的方向圖等因素，吸波材料本身的垂直入射性能和斜入射性能，多次反射等影響。但在實際的工程設計過程中，往往以吸波材料的性能作為暗室性能的關鍵決定因素。
影響因素
1.場均勻性：在靜區(qū)的截面上，橫向和上下移動待測天線，要求接收信號起伏不超過±0.25dB。在暗室靜區(qū)，沿軸移動待測試天線，要求起伏不超±2dB。
2.交叉極化度：由于暗室結構的不嚴格對稱、暗室測試系統(tǒng)以及吸波材料對各種極化波吸收的不一致性等因素致使電波在暗室傳播過程中產生極化不純的現(xiàn)象。若待測試天線與發(fā)射天線的極化面正交和平行時，所測試場強之比小于-25dB，就認為交叉極化度滿足要求。
3.多路徑損耗：路徑損耗不均勻會使電磁波的極化面旋轉，如果以來波方向旋轉待測試天線，接收信號的起伏不超過±0.25dB，就可忽略多路徑損耗。
天線測量的誤差
反射：直射波受到從周圍物體反射的干涉，在測試區(qū)域形成場的變化，由于該波波程作為位置的函數(shù)而迅速變化，使起伏的長度屬于波長的數(shù)量級
有限測試距離所引起的誤差：對于測量中等旁瓣電平的天線，距離2D2/λ通常已經(jīng)足夠，測出的增益約偏小0.06dB。測試距離縮短會使測量誤差迅速增大，旁瓣會與主波束合并成肩臺式，甚至合為一體。通常0.25dB的錐銷使測出的增益降低約為0.1dB，并造成近旁瓣的些許誤差。
其他誤差：導致天線測量產生誤差的因素其他可能有：測量天線的對準誤差；其他干擾信號；低頻時與電抗近場的耦合可能比較顯著；測試電纜所引起的誤差等。
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