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微波暗室的技術(shù)指標(biāo)參數(shù)有哪些？
發(fā)布時(shí)間：
2021-06-30 10:00
微波暗室的電性能指標(biāo)主要由靜區(qū)的特征來表現(xiàn)的。靜區(qū)的特性又以靜區(qū)的大小、靜區(qū)內(nèi)的最大反射電平、場均勻性、路徑損耗、工作頻率范圍以及固有雷達(dá)截面等指標(biāo)來描述。飛宇信擁有專業(yè)的測試設(shè)備，3D微波暗室， 網(wǎng)絡(luò)分析儀，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，遠(yuǎn)場自動(dòng)測試系統(tǒng)。確保天線生產(chǎn)參數(shù)的準(zhǔn)確性。
影響微波暗室性能指標(biāo)的因素是有很多種的，且復(fù)雜。在利用能量物理法和光線發(fā)射法對(duì)暗室性能進(jìn)行仿真計(jì)算時(shí)，需要考慮電波的極化去耦，傳輸去耦，標(biāo)準(zhǔn)天線的方向圖等因素，吸波材料本身的垂直入射性能和斜入射性能，多次反射等影響。但在實(shí)際的工程設(shè)計(jì)過程中，往往以吸波材料的性能作為暗室性能的關(guān)鍵決定因素。
影響因素
1.場均勻性：在靜區(qū)的截面上，橫向和上下移動(dòng)待測天線，要求接收信號(hào)起伏不超過±0.25dB。在暗室靜區(qū)，沿軸移動(dòng)待測試天線，要求起伏不超±2dB。
2.交叉極化度：由于暗室結(jié)構(gòu)的不嚴(yán)格對(duì)稱、暗室測試系統(tǒng)以及吸波材料對(duì)各種極化波吸收的不一致性等因素致使電波在暗室傳播過程中產(chǎn)生極化不純的現(xiàn)象。若待測試天線與發(fā)射天線的極化面正交和平行時(shí)，所測試場強(qiáng)之比小于-25dB，就認(rèn)為交叉極化度滿足要求。
3.多路徑損耗：路徑損耗不均勻會(huì)使電磁波的極化面旋轉(zhuǎn)，如果以來波方向旋轉(zhuǎn)待測試天線，接收信號(hào)的起伏不超過±0.25dB，就可忽略多路徑損耗。
天線測量的誤差
反射：直射波受到從周圍物體反射的干涉，在測試區(qū)域形成場的變化，由于該波波程作為位置的函數(shù)而迅速變化，使起伏的長度屬于波長的數(shù)量級(jí)
有限測試距離所引起的誤差：對(duì)于測量中等旁瓣電平的天線，距離2D2/λ通常已經(jīng)足夠，測出的增益約偏小0.06dB。測試距離縮短會(huì)使測量誤差迅速增大，旁瓣會(huì)與主波束合并成肩臺(tái)式，甚至合為一體。通常0.25dB的錐銷使測出的增益降低約為0.1dB，并造成近旁瓣的些許誤差。
其他誤差：導(dǎo)致天線測量產(chǎn)生誤差的因素其他可能有：測量天線的對(duì)準(zhǔn)誤差；其他干擾信號(hào)；低頻時(shí)與電抗近場的耦合可能比較顯著；測試電纜所引起的誤差等。
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